影响原子力显微镜成像的因素主要包括以下几个方面：
一、成像模式
AFM原子力显微镜主要有三种成像模式：接触模式、非接触模式和轻敲模式。
接触模式：针尖与样品表面距离较小，利用原子间的斥力进行成像。这种模式可以获得高解析度图像，但可能导致样品变形和针尖受损，不适合于表面柔软的材料。
非接触模式：针尖距离样品5~20纳米，利用原子间的吸引力进行成像。这种模式不损伤样品表面，可测试表面柔软的样品，但分辨率较低，有误判现象。
轻敲模式：针尖在扫描过程中周期性地接触和离开样品表面，以减少表面损伤并提高成像分辨率。
二、针尖因素
针尖是原子力显微镜成像的关键部件，其形状和性质直接影响成像质量。
针尖形状：针尖的形状（如曲率半径和侧面角）是影响侧向分辨率的关键因素。曲率半径越小，越能分辨精细结构。
针尖材料：针尖的材料也会影响其与样品表面的相互作用力，从而影响成像效果。
三、采集图像的步宽
原子力显微镜图像由许多点组成，扫描器沿着特定路线进行扫描，计算机以一定的步宽取数据点。步宽越小，即采集的数据点越密集，成像的分辨率就越高。例如，以每幅图像取512×512数据点计算，扫描1μm×1μm尺寸图像得到的步宽为2nm（1μm/512），高质量针尖可以提供1~2nm的分辨率。由此可知，在扫描样品尺寸超过1μm×1μm时，AFM的侧向分辨率主要由采集图像的步宽决定。
四、样品因素
样品的性质也会影响AFM原子力显微镜的成像效果。例如，样品的硬度、粘弹性质、表面粗糙度等都会影响针尖与样品表面的相互作用力，从而影响成像质量。此外，样品的制备过程也很重要，如果制备不当，可能会导致样品表面不平整或产生污染，进而影响成像效果。
五、环境因素
环境因素如温度、湿度、振动等也可能对原子力显微镜成像产生影响。例如，温度变化可能会导致样品和针尖的热膨胀或冷缩，从而影响它们之间的相互作用力；湿度变化可能会影响样品表面的吸附性质；而振动则可能会干扰针尖的扫描过程，导致成像质量下降。
综上所述，影响AFM原子力显微镜成像的因素是多方面的，包括成像模式、针尖因素、采集图像的步宽、样品因素以及环境因素等。为了获得高质量的成像效果，需要综合考虑这些因素并进行相应的优化和调整。