在纳米科学研究中，原子力显微镜作为表征样品表面形貌的关键工具，其测试结果的**度与样品制备质量密切相关。本文聚焦样品准备环节，提炼可复用的通用技巧，助力科研人员优化实验流程。
一、样品清洁：奠定**成像基础
样品表面清洁度直接影响AFM原子力显微镜成像质量。推荐采用两步清洁法：首先使用超声波清洗机配合去离子水或无水乙醇进行初步清洁，去除表面松散污染物；随后针对顽固污染物，可选用等离子体清洗技术，通过低能量等离子体轰击表面，有效去除有机残留且不损伤样品基底。对于软质样品如高分子薄膜，需控制清洗强度，避免表面结构破坏。
二、样品固定：确保扫描稳定性
样品固定需兼顾稳固性与可调节性。块状样品建议采用导电银胶或双面碳胶带固定于样品台，确保扫描区域与台面水平。对于粉末样品，推荐使用“胶纸法”：将双面胶带平整粘贴于硅片或云母基底，均匀撒粉后轻吹去除未粘附颗粒，避免团聚现象。液体样品需控制浓度梯度，采用旋涂法或滴涂法均匀铺展，自然干燥后形成纳米级薄膜，减少针尖扫描时的拖拽效应。
三、表面处理：适配不同测试需求
针对不同样品特性，需采用差异化表面处理策略。硬质样品如陶瓷、金属可通过机械抛光降低表面粗糙度至纳米级；软质样品如生物组织则需避免过度压力，采用化学固定或冷冻干燥技术保持原始形貌。对于导电性较差的样品，可采用蒸镀薄层金膜或碳膜增强信号采集，但需注意避免改变样品本征特性。
四、操作模式选择：匹配样品特性
原子力显微镜的接触模式、非接触模式与轻敲模式各有适用场景。接触模式适用于硬质样品，可获取高分辨率形貌但可能损伤软质表面；非接触模式适合柔嫩样品，通过范德华力检测减少表面损伤；轻敲模式作为折中方案，通过周期性敲击平衡分辨率与样品保护，尤其适用于生物样品与高分子材料。
五、环境控制：减少外部干扰
测试环境需严格控温（20-25℃）、控湿（40-60%），避免温度波动导致样品形变或探针漂移。同时需建立振动隔离系统，减少外部震动对成像的影响。在扫描参数设置中，需根据样品特性调整扫描速度、反馈增益等参数，确保图像信噪比与分辨率的平衡。
通过系统化的样品准备流程，可显著提升AFM原子力显微镜测试的重复性与可靠性。科研人员需结合具体样品特性，灵活运用上述技巧，实现从样品制备到数据采集的全流程优化。