原子力显微镜对比于现有的其它显微工具，以其高分辨、制样简单、操作易行等特点而备受关注，并在生命科学、材料科学等领域发挥了重大作用，极大地推动了纳米科技的发展，促使人类进入了纳米时代。
AFM原子力显微镜的针尖技术
目前，一般的探针式表面形貌测量仪垂直分辨率已达到0.1nm，因此足以检测出物质表面的微观形貌。普通的原子力显微镜探针材料是硅、氧化硅或氮化硅(Si3N4)，其Z小曲率半径可达10nm。由于可能存在“扩宽效应”，针尖技术的发展在AFM原子力显微镜中非常重要。
探针针尖的几何物理特性制约着针尖的敏感性及样品图像的空间分辨率。因此针尖技术的发展有赖于对针尖进行能动的、功能化的分子水平的设计。只有设计出更尖锐、更功能化的探针，改善原子力显微镜的力调制成像术和相位成像技术的成像环境，同时改进被测样品的制备方法，才能真正地提高样品表面形貌图像的质量。