你知道AFM原子力显微镜常用的接触模式、非接触模式、轻敲（间歇性接触）模式这三种模式应该如何选择吗？
接触模式
探针尖D和样品做“柔性接触”，接触力引起悬臂弯曲进而得到表面图像，但是可能使样品表面弯曲，长时间后针尖有钝化现象影响图像质量出现误判，接触模式可以产生稳定的、分辨率高的图像。但是由于接触所以容易变形、移动的样品不适合。
非接触模式
针尖在样品上方振动，不与样品接触，探测器检测的是范德华作用力和静电力等作用力，该模式要求原子力显微镜的灵敏度更高，当针尖和样品距离太长时，分辨率比其他模式都要低。适用于柔软、有弹性的样品。
轻敲（间歇性接触）模式
微悬臂做受迫振动，振荡的针尖轻轻敲击样品表面，间断的和样品接触，反馈系统控制微悬臂的振幅恒定，针尖就跟随表面起伏上下移动进而获得形貌信息。轻敲模式比非接触模式靠近样品，比接触模式对样品伤害更少，也能得到和接触模式一样的分辨率。适用于一些不牢固的样品，像生物大分子这样的软样品也比较适合。样品表面起伏较大的大型扫描比非接触的更有效。