原子力显微镜探针在使用中需要注意以下要点：
样品与探针的选择：根据测试目的、研究问题以及样品的形态、尺寸等特点，选择合适的样品台及探针。
探针的检查与校准：使用前应仔细检查探针是否损坏、畸变或过度使用，若有异常应立即更换，并进行相应的校准。
样品台的水平保持：在使用时，应保持样品台的水平状态，避免在移动过程中突然遇到障碍物或突然停顿，以防止样品及探针的损伤。
探头的安装与更换：确保探头正确安装并夹紧，避免意外脱落。若探头不适合当前测量要求，应更换合适的探头。
环境因素的考虑：在操作过程中，应避免重金属或电磁干扰，并保持实验室的适宜环境（如温度、湿度、灰尘及噪音等），以维持实验的稳定性和可重复性。
观测与记录：在观测实验时，应随时关注样品及仪器运行状态，及时记录实验数据，避免误操作。
此外，针对AFM原子力显微镜的成像模式，还有以下注意事项：
接触模式：该模式下，探针针尖始终与样品表面保持接触，因此力的大小范围在10^-10～10^-6N。对于表面柔嫩而不能承受这样力的样品，不宜选用接触模式。
非接触模式：在此模式下，悬臂在距离试样表面上方5～10nm处振荡。然而，在室温大气环境下实现这种模式可能较为困难，因为样品表面可能会积聚空气中的水，影响测试效果。
轻敲模式：此模式下，探针在Z轴维持固定频率振动，当振动到谷底时与样品接触，对样品破坏小，分辨率几乎同接触模式相同。此模式适于观测软、易碎或胶粘性样品。
综上所述，为了确保原子力显微镜探针的正确使用和测试结果的准确性，需要严格遵循上述注意事项。