AFM原子力显微镜的探针在使用中有那些需要注意的

 新闻资讯     |      2024-04-12 09:31:25

在使用原子力显微镜的探针时,需要注意以下几点:

探针选择与处理:根据测试的目的、研究的问题及样品的形态、尺寸等特点选择合适的探针。探针是直接接触样品表面的部分,因此对其干净度和质量要求很高。在使用之前,应确保探针表面没有杂质和污染物,常见的处理方法包括使用超声波清洗、离子交换法等。同时,存放探针时,要注意避免其与空气、尘埃等接触,可以使用特殊的存放盒或容器。

原子力显微镜.jpg

探针夹持与校准:在使用前,应仔细检查探针是否损坏、畸变或过度使用,若有异常应立即更换探针,并进行对应的探针校准。安装探针时,要轻轻地将探针夹安装在扫描器底部,切勿过度用力,以免损坏扫描器。

样品制备:样品的制备对于AFM原子力显微镜测试的准确性和有效性至关重要。样品表面应干净、平整和均匀,无污染物或不均匀表面。样品B须保持干燥,避免水分或其他液体残留物对测试结果的影响。对于有机物样品,应具有足够的疏水性。此外,样品的大小和高度也需要控制在一定范围内。

显微镜参数调节:不同的样品材料和形态需要不同的参数设置,因此在实际使用中需要根据样品的特点进行调整。常见的参数包括扫描速度、扫描范围、扫描模式等,合理选择这些参数可以提高测量的准确性和效率。

环境条件:在使用原子力显微镜时,需要避免重金属或电磁干扰,并保持实验室的适宜环境,如温度、湿度、灰尘及噪音等,以维持实验的稳定性和可重复性。

总之,在使用AFM原子力显微镜的探针时,应综合考虑探针的选择、处理、夹持与校准,样品的制备,原子力显微镜参数的调节以及环境条件等多个方面,以确保测试的准确性和有效性。