原子力显微镜的图像展示了固体材料表面的形貌结构。这些图像通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件（即微悬臂上的微小针尖）之间的极微弱的原子间相互作用力来获得。
在AFM原子力显微镜中，微悬臂的一端被固定，而另一端带有微小的针尖。当针尖接近样品表面时，由于针尖J端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，微悬臂会发生形变或运动状态发生变化。通过控制这种力的恒定，微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。
扫描过程中，利用光学检测法或隧道电流检测法，可以测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化，从而可以获得样品表面形貌的信息。这些信息*终以图像的形式呈现，展示了固体材料表面的纳米级形貌结构。
原子力显微镜的图像具有原子级的分辨率，可以清晰地展示固体材料表面的细节，包括表面粗糙度、起伏、缺陷等。由于AFM原子力显微镜既可以观察导体，也可以观察非导体，因此它在材料科学、生物学、物理学等领域具有广泛的应用。
至于原子力显微镜图像的具体样式，它取决于样品的表面形貌和所使用的成像模式。AFM原子力显微镜主要有三种成像模式：接触式、非接触式和轻敲式。不同的成像模式会产生不同的图像效果，以适应不同类型的样品和实验需求。