原子力显微镜的制样要求主要确保样品能够准确、有效地进行原子级别的观测和分析。以下是一些关键的制样要求：
样品表面应干净、平整和均匀。任何污染物或不均匀的表面都可能影响AFM原子力显微镜测试的精确性和准确性。这可以通过氮气吹扫或酒精丙酮等试剂清洗来实现。
样品B须保持在干燥的环境中。如果样品表面有水分或其他液体残留物，可能会导致测试结果不准确，因为液体可能会在扫描过程中干扰样品表面的结构。
样品尺寸应足够小，以确保在测试过程中样品表面的任何变化都可以被检测到。通常，样品大小一般不超过1厘米，高度也应控制在1厘米以内。如果样品过大，可能会导致一些细节被忽略或掩盖。
对于不同类型的样品，需要采取不同的制备策略。例如，块体样品和薄膜样品在清洁后可以直接固定在样品台上进行测试；而生物样品，如DNA分子和细胞等，可能需要特定的吸附固定方式，如加入二价阳离子以增强DNA和云母基底间的相互作用力，或者将细胞种在培养皿中进行液下成像。
对于有机物样品，应具有足够的疏水性，以保证平整的表面并防止吸附液污染样品。
对于某些特殊样品，如纳米线、纳米管等，可能需要进行特殊处理以保证成像质量。
在制样过程中，还需要注意一些细节。例如，在液下成像时，Z简单的方法是在样品表面滴一滴液体，但液体高度不能高于保护套高度。如果要把样品粘在大的基底上，需要注意所用的胶不能是水溶性的。
总的来说，原子力显微镜的制样要求是为了确保样品能够在原子级别上进行准确、有效的观测和分析。在制样过程中，需要遵循这些要求，并根据具体的样品类型采取相应的策略。