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AFM原子力显微镜是一种具有原子级别高分辨率的新型表面分析仪器，它不但能像扫描隧道显微镜那样观察导体和半导体材料的表面现象

AFM原子力显微镜在材料研究中的应用介绍

​原子力显微镜是利用检测样品表面与细微的探针之间的相互作用力（原子力）测出表面的形貌。

原子力显微镜利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力，从而达到检测的目的，具有原子级的分辨率。

AFM原子力显微镜是强大的石墨烯分析工具

原子力显微镜是一种强大的植物细胞壁成像工具，可以研究它们的结构和微纤维的方向。这种类型的分析提供了对造纸和纸浆行业有用的见解。