原子力显微镜作为纳米尺度表征的核心工具，其精密程度远超常规光学显微镜。一套性能稳定的AFM原子力显微镜系统，不仅依赖设计制造阶段的工艺水准，更与日常使用后的存放习惯、长期保存策略密切相关。众多实验室在设备购入初期性能良好，但运行一至两年后，常出现成像噪声增大、扫描器非线性漂移、激光光路偏移等问题，根源往往不在硬件本身，而在存放环境与维护规程的缺失。本文从一线工程师视角，梳理原子力显微镜使用后的存放要点与长期保存建议，供行业同仁参考。
存放环境的三大核心控制指标
AFM原子力显微镜对环境的敏感度远高于普通光学显微镜，其扫描精度受温度、湿度、振动三重因素直接影响。温度应稳定在20°C至25°C之间，波动幅度*好不超过±1°C。温度变化会导致扫描管（压电陶瓷）热膨胀或收缩，产生零点漂移，进而影响亚微米级甚至纳米级的测量重复性。相对湿度建议控制在40%至60%。湿度过高，样品台、探针及光学镜组表面易凝结水汽，造成激光反射率下降、探针粘附污染；湿度过低则易产生静电，吸附灰尘颗粒，干扰扫描器运动。振动隔离是存放中的隐形关键。即使设备处于关机状态，长期暴露在楼宇低频振动环境下，也会使压电扫描器的机械结构产生疲劳形变。因此，原子力显微镜应始终置于主动式或被动式隔振台上，存放期间隔振台的气浮系统或弹性支架应保持开启状态，不可因停机而关闭。
使用后的即时操作规范
每次测试结束后，不可直接关闭电源或取下样品。正确的顺序是：先通过软件将扫描器退回至安全位置（通常为Z轴完全收缩状态），避免探针在卸载样品时意外撞击。然后取出样品，用无尘压缩空气或氮气轻吹样品台表面，清除可能残留的颗粒物。若使用了液体池或接触模式探针，需用专用溶剂清洁探针夹具及样品台接触面，防止腐蚀性残留物侵蚀光学组件。激光光路部分：对于内置光学显微镜的AFM原子力显微镜系统（如微仪原子力显微镜系列集成的高分辨率光学镜头），可用擦镜纸沾取无水乙醇轻轻擦拭物镜外表面，但严禁触碰内部光学元件。*后，将防尘罩完全覆盖设备，注意防尘罩宜采用防静电材质，避免普通塑料布因摩擦产生静电吸附灰尘。
长期保存的专项建议
若原子力显微镜预计闲置超过一个月，需执行更严格的保存措施。
探针管理：探针是AFM原子力显微镜*昂贵的耗材之一。长期不使用时，应将探针从夹具上取下，放入原装密封盒中，置于干燥柜内（湿度低于30%）。不建议将探针长期留在扫描头上，因为环境中的水汽和细微颗粒会侵蚀针尖，导致后续使用时力曲线异常。微仪原子力显微镜用户可在软件中记录探针的使用次数与状态，以便下次启用时快速判断。
光学系统维护：原子力显微镜的检测光路依赖于激光二极管和四象限光电探测器。长期存放期间，激光器若长时间不通电，其阈值电流可能漂移。建议每两周通电运行一次（持续30分钟），使激光器处于恒温工作状态，避免因长期静置导致输出功率不稳定。同时，检查光学窗口是否存在霉斑——在高湿度地区，镜片镀膜易滋生真菌，一旦出现霉斑需专业返厂处理。
扫描器与压电陶瓷：压电陶瓷在长期不通电时，其极化状态可能缓慢衰减。建议每季度使用软件内置的自检程序，对扫描器进行小范围循环扫描（如1μm×1μm标准光栅），以维持陶瓷材料的电活性。注意不要长时间施加直流偏压，避免漏电导致陶瓷老化。
数据与软件备份：长期闲置前，将所有原始数据、校准文件及系统配置参数导出至独立存储介质。AFM原子力显微镜的校准参数（如扫描器线性系数、激光位置偏移补偿值）通常保存在主控箱的非易失性存储器中，但若主控箱断电时间过长（超过一年），电池耗尽可能导致参数丢失。建议每半年更换主控箱内部纽扣电池，或定期通电维持电容存储。
环境监测：在存放空间的显眼位置放置温湿度记录仪，并设置报警阈值。实验验证表明，当湿度连续三天超过70%时，原子力显微镜内部的光学组件反射率下降约8%，直接导致激光信号强度衰减。
总结而言，无论设备品牌与型号，AFM原子力显微镜使用者都应建立“使用即保养、存放即监控”的思维。定期通电、控制温湿度、保护探针与光路，这三条原则覆盖了80%以上的存放故障场景。