AFM原子力显微镜的制样过程介绍

 新闻资讯     |      2024-03-29 08:52:11

原子力显微镜的制样过程主要包括以下几个步骤:

选择材料并切割:根据实际需求,选择金属材料、无机材料、有机材料等。将样品切割成适当的尺寸,通常为几毫米大小。

原子力显微镜.jpg

清洗处理:将样品放入超声波清洗器中,使用适当的溶剂进行清洗处理。清洗时间一般为10~15分钟,然后用去离子水冲洗干净,并用氮气吹干。这一步骤的目的是确保样品表面的清洁,避免污染物对探针的污染以及对成像结果的干扰。

固定样品:将清洗后的样品固定在基座上。可以使用双面胶固定或夹持固定。固定时要注意避免产生表面应力,以免影响后续的扫描结果。固定是制样过程中的关键步骤,因为无论是空气中还是液下成像,都需要样品是固定的,以保证成像的稳定性。

设置AFM原子力显微镜扫描参数:打开原子力显微镜设备,根据样品的性质和要求设置合适的扫描参数,包括扫描速度、扫描范围、力曲线等。设置参数时要根据实际情况进行调整,以获得Z佳的图像效果。

请注意,对于不同的样品,制样过程可能还需要一些特定的处理步骤。例如,对于蛋白质、DNA和活细胞等生物样品,可能需要调节溶液pH值或使用特定的固定方法,以确保样品能够牢固地固定在基底表面上。

完成上述步骤后,就可以将样品放入AFM原子力显微镜仪器中,启动扫描程序,通过扫描探针与样品表面的相互作用,获得样品表面的高度信息,生成原子力显微镜图像。

Z后,根据获得的AFM原子力显微镜图像,可以对样品表面形貌进行分析和解释,从而获取所需的信息。

请注意,制样过程需要细致的操作和专业的知识,建议在实际操作中参考相关的专业手册或咨询专业人士。