原子力显微镜在不同工作模式下的技术分析与应用场景 AFM原子力显微镜作为一种纳米尺度表征工具，通过针尖与样品表面原子间作用力的变化实现高分辨率成···
AFM原子力显微镜在半导体工业领域中发挥的优势有那些
原子力显微镜在半导体工业中的核心优势：AFM原子力显微镜作为纳米级表征的J端工具，在半导体工业中展现出高分辨率、多功能性、非破坏性三大核心优势，···
AFM原子力显微镜几个常见问题如何解答（二）
Peak-Force Tuna和C-AFM测试之间的区别？ TUNA电流是探针要触及样品后的隧穿电流值，反应了样品的导电性，同时探针不会对样品造成损坏，可以说即可以表···
AFM原子力显微镜各工作模式特点应该如何选择？
原子力显微镜是一种基于测量样品表面与超锐探针之间相互作用力的显微镜，其工作模式的选择取决于样品的性质、所需的分辨率、扫描速度以及对样品可能造···
AFM原子力显微镜一共有几个工作模式
原子力显微镜的工作模式主要分为以下三类，每种模式对应不同的应用场景和测量原理：1. 接触模式（Contact Mode） 原理：探针J端与样品表面直接接触，通···