原子力显微镜是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作...

原子力显微镜（AFM）是利用检测样品表面与细微的探针针尖之间的相互作用力（原子力）测出表面的形貌。探针尖尖在小的轫性的悬臂上，当探针接触到样品表...

使用原子力显微镜可以监测分子束外延后CdTe/Si复合衬底的表面情况。Si基衬底分子束外延后的CdTe薄膜表面不是很精密而是存在一些微观凹坑，峰谷值P-V为...

原子力显微镜探针的应力和运动实际上包括两部分，一是探针jian端与样品表面的相互作用，二是接触过程中探针悬臂梁的振动。事实上，两者不能完全分开讨...