原子力显微镜AFM助力改良材料器件工艺中的抛光环节
使用原子力显微镜可以监测分子束外延后CdTe/Si复合衬底的表面情况。Si基衬底分子束外延后的CdTe薄膜表面不是很精密而是存在一些微观凹坑,峰谷值P-V为...
(AFM)原子力显微镜工作原理及优缺点
英文缩写原子力显微镜(AFM),一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。原理介绍: 原子力显微镜的工作模式以针尖与样品之间的作...
使用原子力显微镜可以监测分子束外延后CdTe/Si复合衬底的表面情况。Si基衬底分子束外延后的CdTe薄膜表面不是很精密而是存在一些微观凹坑,峰谷值P-V为...
英文缩写原子力显微镜(AFM),一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。原理介绍: 原子力显微镜的工作模式以针尖与样品之间的作...